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爱德万整合式测试设备满足TPMSMEMS感测器测试需求

发布时间:2020-06-28 12:01:57 阅读: 来源:领针厂家

为因应中国快速成长的汽车市场需求,半导体测试设备业者爱德万测试日前已安装一套整合式测试设备,该套设备完整具备汽车胎压监控系统(TPMS) MEMS感测器最终测试所需的各项功能,现已通过检验可应用于量产制程,目前客户端内部与所合作的晶圆封测代工厂均已导入。

爱德万测试 V93000 电源类比控制解决方案事业群总经理暨副总裁Juergen Serre表示:「近年来 MEMS 感测器市场极速成长,提升感测器元件整合能力已是时势所趋,而发展『感测器融合』技术亟需仰赖高弹性且具成本效益的解决方案,才能因应快速成长的需求,我们这套整合式测试设备采用具备高扩充性的 V93000 为核心,正能符合这样的需求。」

这套测试设备紧密整合了爱德万测试的 V93000 Smart Scale 平台、 Pin Scale 1600 通用接脚数位量测模组与最多可达1,024根接脚的小尺寸A级测试头,可提供极高的多组同测效能。不仅如此,这套设备还配备其他设备供应商所开发的大量元件分类机与各类压力测试工具。在发挥上述功能综效下,这套测试设备将能完全满足 MEMS 感测器元件所有测试需求,免去切换资源的麻烦,进而提升产能。此套系统可针对 eFlash 、 AD/DA 转换器、 RF UHF 发射器 (频宽范围315MHz到433MHz) 等非挥发性记忆体,进行数位I/O通讯协定测试,传输率最高可达1.6Gbps。

这套设备内建有助于提升开发与运作效率的爱德万测试 SmarTest 软体,使该测试设备得以结合多台分类机运作,轻松因应未来扩充之需,同时也提供极广泛的感测器测试资料库,加速测试程式开发时程。

V93000 Smart Scale 平台具备数位与类比测试能力,可降低测试成本,且提供领先业界的并行测试效能,是同级产品中第一套具备完整效能的解决方案。 V93000 Smart Scale 所提供的A级配置方案采用爱德万测试尺寸最小的测试头,能大幅减少占用空间与耗能,让整体拥有成本发挥极大效益。

Pin Scale 1600 数位量测模组可针对元件每根接脚进行测试,且具备相当高的多组同测效能,其扩充性为市场上最高,资料传输率范围则可从直流电(DC) 到1.6Gbps,密度为前代产品的二到四倍,尺寸缩小但具备完整测试功能,包括clock-domain-per-pin、protocol-engine-per-pin、单接脚伪随机位元流 (Pseudo-random Bit Stream)、SmartLoop对称性高速测试介面等,可达到真正类系统压力测试效能。

(编辑:和讯网站)

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